半導(dǎo)體清洗過(guò)程涉及晶圓表面多個(gè)結(jié)構(gòu)區(qū)域，其中介電層作為電路中絕緣介質(zhì)，其表面完整性直接影響芯片功能穩(wěn)定性與可靠性。選擇合適的清洗材料需考慮其與介電層材料的化學(xué)兼容性、表面張力適配性、pH值適中性及腐蝕可能性。

常見(jiàn)介電層包括SiO?、Si?N?、低k有機(jī)材料、碳?xì)浠衔锝橘|(zhì)等。部分介質(zhì)層結(jié)構(gòu)為多孔型或薄型，對(duì)化學(xué)腐蝕特別敏感。強(qiáng)堿、強(qiáng)酸類(lèi)清洗液或含有氟、氨等活潑基團(tuán)的溶液，若濃度控制不當(dāng)，易造成介電層蝕刻、表面粗糙度上升、膜層降解等問(wèn)題。

針對(duì)介電層的清洗需求，常采用中性或微堿型水基清洗液。部分應(yīng)用場(chǎng)景中使用高純度IPA、MEG、PGME等溶劑組合，確保在不破壞膜層結(jié)構(gòu)的同時(shí)完成污染物剝離。去除污染物如金屬離子、微粒、有機(jī)殘留的同時(shí)，避免引發(fā)界面腐蝕。

封裝制程中介電層材料結(jié)構(gòu)復(fù)雜，需使用對(duì)界面能反應(yīng)弱、分子結(jié)構(gòu)穩(wěn)定的溶劑。適用于低k材料的清洗液應(yīng)具有低表面張力與低特征，確保不滲入膜孔結(jié)構(gòu)，防止電性能劣化。

為驗(yàn)證腐蝕性水平，行業(yè)內(nèi)常采用金屬腐蝕率測(cè)試、薄膜剝離力測(cè)試、界面電容測(cè)試等方法。部分廠家提供與介電層兼容性評(píng)估報(bào)告，包括表面電荷密度變化、膜厚變化前后比對(duì)、顯微鏡下膜層完整性檢查等數(shù)據(jù)。

介電層腐蝕風(fēng)險(xiǎn)還與清洗時(shí)間、溫度、溶液流動(dòng)性等使用條件有關(guān)。應(yīng)在工藝參數(shù)范圍內(nèi)操作，避免超溫、長(zhǎng)時(shí)間靜置等異常操作引發(fā)不良反應(yīng)。